Messtechnik. Für Prototypenbau und Fertigung.

Für die Charakterisierung der Ebenheit optischer Oberflächen sowie der Wellenfrontdeformationen in Reflexion und Transmission stehen diverse Interferometer höchster Genauigkeit (bis λ/20 WF PV) zur Verfügung. Wir besitzen langjährige Erfahrung darin, die Messmittel und Messprozesse auch für Ihr Produkt optimal anzupassen. Es können beispielsweise Messungen in vertikaler oder horizontaler Prüflingspositionierung oder auch Messungen im Reinraum oder im Vakuum durchgeführt werden. Bereits während des Fertigungsprozesses werden die optischen Flächen mit Werkstattinterferometern überprüft.

• Phasenschiebende Fizeau-Interferometer für große Planflächen bis 24-Zoll
• Interferometer mit kurzer Kohärenzlänge für mehrschichtige Glaslagen
• Interferometer mit CGH-Wellenfrontformung für Zylinderflächen bis 100 mm; Stitching entlang Scheitellinie bis 2.000 mm; Radien von 4 mm bis unendlich
• Sphäreninterferometer
• Stitchinginterferometer für Asphären
• Infrarot-Interferometer, 3,4 µm
• Shack-Hartmann Wellenfront Sensoren für Wellenlängen von 350 nm bis 1.064 nm und Strahldurchmesser bis 15 mm

Taktile 3-D-Koordinatenmessmaschinen

• Tastende und scannende Systeme
• Messvolumen bis zu (9 x 20 x 8) dm3
• Zulässige Längenmessabweichung MPE E nach DIN EN ISO 10360-2 zwischen 0,6 µm + L/600 und 3,0 µm + L/250

Optische Koordinatenmessmaschinen

• Z.T. Multisensorgeräte mit taktilem Taster
• Messvolumen bis zu (6,5 x 7,5 x 5) dm3
• Strukturauflösung bis zu 1 µm
• Zulässige Längenmessabweichung E 2D (OT) nach VDI/VDE 2617 Blatt 6.1 zwischen 1,5 µm + L/250 und 2,8 µm + L/125
• Berührungslose Messung der absoluten Position optischer Flächen in mehrlinsigen Systemen, Genauigkeit < 1 µm

Wir verwenden ein Goniometer mit einer Genauigkeit von 15 µrad zur Vermessung von Plan- und Keilplatten, Prismen und Polygonen.

Weißlichtinterferometer

• Vertikale Auflösung bis ca. 0,1 nm
  (für Ra < 10 nm)
• Laterale Auflösung bis 0,64 µm
• NA bis 0,55
• Bildfelder bis (7,07x5,30 mm)
• Stitching-Algorithmen
• Aufnahmen von Objekten bis 800 mm Kantenlänge

Zur ständigen Kontrolle und Überwachung unserer hohen Qualitätsstandards verwenden wir die Verfahren der spektralen Reflexions- und Transmissionsmessung. Für das Messen der Materialeigenschaften spektrale Transparenz und spektrale Reflektivität sind die Geräte Perkin-Elmer Lambda 19, Lambda 900 und Lambda 950 im Einsatz.

• Linsen- und Objektivprüfvorrichtung
• Zentriermessung von einzelnen Linsen und Linsensystemen

Die Messgenauigkeit von bis zu 50 µrad ist abhängig von der Linsengeometrie.

Zylinderlinsenzentrierung
Messunsicherheiten (Genauigkeit) bei der Bestimmung der drei Zentrierfehler von Zylinderlinsen:

Einen Überblick zu den verschiedenen Zylinderlinsen, die wir bei Berliner Glas anbieten, zeigt die Seite Zylinderoptiken.

Modulations-Transfer-Funktion (MTF)

Für die Messung der Abbildungsqualität steht eine große MTF-Anlage mit einer maximalen Apertur von 200 mm zur Verfügung. Neben der MTF-Messung können weitere Kenngrößen wie Verzeichnung, Bildfeldwölbung, und Brennweite, für  Feldwinkel  > 90° gemessen werden. Objekt- und Bildlagen sind in weiten Bereichen von endlich bis unendlich einstellbar.

Für spezielle Anforderungen entwickeln wir kunden- und anwendungsspezifische Prüfplätze:

Mit speziell hierfür angepasster Software, die automatisierte Auswertungen erlaubt, decken wir Bereiche ab, die nicht mit Standardverfahren erfasst werden können. Das versetzt uns in die Lage, physikalisch mögliche Leistungsgrenzen zu erreichen und die optimale Qualität Ihrer Produkte zu gewährleisten.