Analytik - Verborgenes ans Licht holen
Analytik - Verborgenes ans Licht holen
Als
führender OEM-Lieferant im Bereich der Analytik beliefern wir
internationale OEM-Kunden mit optischen Komponenten und anspruchsvollen
Baugruppen und Systemen, die einen entscheidenden Beitrag zu
detaillierten Untersuchungen von festen, flüssigen und gasförmigen
Materialien leisten. Einsatz finden dabei:
komplexe Objektive plane, konkave und konvexe holografische Gitter mit hoher Liniendichte Um
dem neuesten Stand der Technik gerecht zu werden und vorallem durch
einzigartige Qualität zu überzeugen werden viele unserer Baugruppen
ebenso in Reinräumen gefertigt und montiert.
Material: optische Gläser, CaF2, MgF2, Quarz, Glaskeramik, Keramik, Borosilikatglas und Filterglas
Maße bis Ø 500 mm Radien 1,2 mm bis ∞ Zentrierfehler 10" Passfehler λ/40 PV, gemessen bei 632,8 nm Oberflächenfehler 5/1 x 0,025 Mikrorauheit 2 Å rms
Mittendickentoleranz +/- 3 µm Durchmessertoleranz +/- 3 µm
Asphärische Linsen Maße Ø 5 - 150 mm Passfehler λ/20 PV, konvex und konkav,
Zylindrische Linsen Radius 2 - 50.000 mm Länge bis 500 mm, größer auf Anfrage Linsenweite bis 300 mm Passfehler λ/8 PV, gemessen bei 632,8 nm Oberflächenfehler 5/1 x 0,025 Mikrorauheit 2 Å rms Zentrierung Verdrehung: 10", Versatz: 4 µm, Keil: 3µm
Fenster, Prismen und Prismensysteme
Maße bis max. 1.500 mm Planität λ/40 PV, gemessen bei 632,8 nm Parallelität 1" Winkelgenauigkeit 1" Mikrorauheit 2 Å rms
Oberflächenfehler 5/1 x 0,004
Strichplatten, Masken, Blenden, codierte und analoge Kreise Strukturierte Beschichtungen
Strahlteiler/-kombinierer (verkittet/unverkittet)
Optische Baugruppen und Systeme (verkittete Strahlteiler, Primensysteme, Doublets, Triplets, Stufensysteme) Optomechanische Baugruppen und Systeme Elektrooptische Systeme Linsensysteme Objektive, Zoomsysteme Messsysteme Kameras Lasersysteme Lichtquellen Beleuchtungssysteme
Wellenfront Interferometer (4 - 24"), Formabweichung 3-D-Koordinaten-Messgerät, Winkel Goniometer, Interferometer, Transmission/Reflexion Spektralphotometer Oberflächengüte Messmikroskope Mikrorauheit Weißlicht-Interferometer, Abbildungsleistung Computergestützte MTF-Messanlage, Zentrierung Objektivprüfvorrichtung, Laserzentrierprüfgerät Weitere funktionale Messungen Baugruppenspezifische Messvorrichtungen Feinkorrekturverfahren Ionenstrahlverfahren, Roboterpolieren,
*Folgende Fehler- und Toleranzangaben weisen mögliche Grenzwerte auf.
English version
Entwicklung
Schlüsselkomponenten*
Baugruppen 
Systeme
